國(guó)外超高速照相測(cè)量技術(shù)有助探索復(fù)雜物理現(xiàn)象

日期： 2023年04月06日　08:44 來(lái)源：科技部合作司  　　

韓國(guó)科學(xué)技術(shù)院（KAIST）科研團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)出一種超高速照相測(cè)量技術(shù)，通過(guò)將脈沖寬度為100飛秒（1/1000萬(wàn)億分之一秒）的光脈沖分成大約1000種顏色，并使用不同顏色的脈沖來(lái)精確測(cè)量像素之間的高低差，在0.26GPixel/S像素填充率下的測(cè)量精度為330pm，能夠捕捉到半導(dǎo)體元器件中的微觀運(yùn)動(dòng)和結(jié)構(gòu)，有助于探索此前從未觀察到的復(fù)雜物理現(xiàn)象。　　

科研團(tuán)隊(duì)表示，該測(cè)量技術(shù)僅需3.47ms即可測(cè)量分辨率為1024x882像素、寬度為6.4mm、高度為2.4mm的區(qū)域，下一步將繼續(xù)優(yōu)化提高該技術(shù)的檢測(cè)速度。此項(xiàng)研究成果發(fā)表在國(guó)際期刊《Light：Science and Application》上�！　�

本文摘自國(guó)外相關(guān)研究報(bào)道，文章內(nèi)容不代表本網(wǎng)站觀點(diǎn)和立場(chǎng)，僅供參考。